三映電子工業 システム開発部
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SSD障害解析(SSD故障原因調査)サービス
SSDの多値化(SLC/MLC/PLC/QLC..)に伴い、バックグラウンドで行われるコントローラーの制御は複雑化し、 ブラックボックス化しております。 弊社では最先端の調査方法を駆使してSSDの故障原因を追究いたします。 SSDの故障による障害発生はSMART値の解析だけでは真の原因追及は難しく、 SSDの不良によるものか、システム側に要因があるのかの切り分けは難しいです。 弊社では、SSD内部ログの解析、ECCエラーレートの解析など様々な解析手法を通じて、 一般のSSD障害解析業者とは一線を画した調査報告をいたします。 また、その原因に沿った改善方法も併せて提案することで、迅速なトラブルシューティングが実現可能です。
概 要
  SSD障害解析は、障害事象の状況診断とコントローラー/NANDチップの不具合の調査により故障原因を追及します。
障害発生状況にもよりますが、大きく3つのステージに分けて実施致します。
   
特 徴
 

■SSD障害解析サービスとは
障害事象の確認だけではなく、どういった障害が起こっているか、そこにはどういう理由が考えられるか、といった障害の真の原因究明に全力を尽くします。 また、豊富な経験と知識から障害改善へ向けたコンサルティングにも応じることが可能です。

解析内容
障害解析は大きく3つのステージに分けて実施します。

・一次診断

トップカバーを外し、チップの外観検査、I/Fコネクター等の検査を行います。
起動しないSSD及び故障したSSDのIdentify情報(注1)/SMART情報(注2)を 弊社のテスターで取得し、SSDの状態を調べます。
性能調査とERROR有無の調査を行います。
内部ログの解析から、コントローラー、NANDチップの切り分け調査を行います。
診断結果と原因推定・考察を報告し対策を提案します。

注1)Identify情報:HDD/SSDの固有情報や現在の設定値などの情報
注2)SMART:HDD/SSDの健康状態をデバイス自身が発行する各種の情報


Read 性能測定 Write 性能測定
Read性能測定 Write性能測定
IDENT 情報取得
00 General configuration info
01 Default logical # of cylinders
02 Specific configuration
03 Default logical # of heads
06 Default logical # of secs/trk
・・・・・・・・・・・・・・・・・
0C5A
3FFF
C837
10
003F
SMART 情報取得
ID:1 Read Error Rate 000600000000 0 000000000000 0
ID:5 Reallocated Sectors Count 00000000000B 11 00000000000B 11 代替処理された不良セクタの数
ID:9 Power-On Hours 7F8800000E85 3717 271000000E86 3718
ID:12 Device Power Cycle Count 0000000005D8 1496 0000000005D9 1497
ID:171 SSD Program Fail Count 000000000000 0 000000000000 0
ID:172 SSD Erase Fail Count 000000000000 0 000000000000 0
ID:174 Unexpected power loss count 000000000043 67 000000000043 67 予期しない電源断回数
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・

・二次診断

更に原因を絞る必要がある場合には
 ・エラーレート試験:NANDチップの劣化状態を把握。
 ・SATAI/Fコンプライアンス試験:SATA規格に沿ったI/Fラインであるか確認。
 ・コネクタ端子等の化学分析:腐蝕、インピーダンス等


ECCエラー調査
NANDチップ内BLK/PAGE ADRS
NANDチップ内のBlockAddressとPageAddressにおけるエラーレート
分解調査
SSD内部
SSD 内部

・三次診断

コントローラー・NANDチップ表面と断面調査
不具合箇所のSEM/EDX分析・GC-MS分析


チップ表面と断面1 チップ表面と断面2
チップ表面と断面3
異常個所の調査(樹脂残差もしくは、付着異物の有無確認)

結果と原因推定と考察を記載

   
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