三映電子工業 システム開発部
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分析評価サービス
当社の分析評価サービスは各種分析機器を駆使し、原因究明はもとより、製造プロセスまで踏み込んだ故障解析を行い、改善施策をご提供いたします。
   
概 要
  故障解析から自社プロセスの歩留まり改善のための不良原因の究明といった製造プロセスまで踏み込んだご提案から、第三者機関だからこそできるメーカー故障解析結果の妥当性の検証等、お客様の知りたい情報をご提供するのが「分析評価サービス」です。

   
特 徴
  分析サービス内容
・表面分析
WDX、EDX、AES、μ-ESCA、X線分析顕微鏡等の設備を用いて、様々な固体の表面層の分析を行います。



エネルギー分散型X線分析装置 X線電子分光分析装置

エネルギー分散型X線分析装置

X線電子分光分析装置


・クロマトグラフ分析
GC-MS、IC等の設備を用い、有機ガス分析を行います。腐食性・揮発性ガスの分析、環境調査等が可能です。

エネルギー分散型X線分析装置 X線電子分光分析装置

エネルギー分散型X線分析装置

X線電子分光分析装置


・形態観察
FE-SEM、SEM、AFM等の設備を用いて、様々な固体の表面形態分析を行います。



高分解能走査型電子顕微鏡 原子間力顕微鏡
高分解能走査型電子顕微鏡 原子間力顕微鏡

・化合物分析
FT-IR等の設備を用いて、物質の有機成分分析が可能です。

フーリエ変換赤外分光光度計
フーリエ変換赤外分光光度計
   
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