三映電子工業 システム開発部
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【SSD/NAND 基礎講座】

47. コネクタの接触不良(HDD共通問題)(3)


 
■コネクタの接触不良(HDD共通問題)(3)
汚れ成分をGS-MS※にて分析

SATAコネクタ
 
汚れ成分をGC-MS※にて分析しました

 

有機物

シロキサン
GC-MSとはガスクロマトグラフィー質量分析法で、 GCで分離した成分の検出に質量分析計を用いることで、 質量情報から成分の定性及び定量を行うことができます。
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